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Agilent 儀器設備 - 紫外可見光譜儀、紫外可見近紅外光譜儀
紫外可見近紅外光譜儀
Cary 6000i UV-Vis-NIR Spectrophotometer
Cary 6000i UV-Vis-NIR Spectrophotometer
專為短波紅外（800-1800 nm）設計，採用窄波段InGaAs。
窄波段InGaAs偵測器的高靈敏度在SWIR波段透過分光光度計的光學通量最佳化得以充分利用。其600線／mm的近紅外衍射光柵，設計峰值（blaze）為1000 nm，可將光學色散集中於800-1800 nm波段，避免光子浪費至偵測器範圍之外。Cary 6000i是材料特性光譜分析的理想工具。
搭配Cary WinUV軟體使用，可輕鬆執行強大分析並控制選配配件。大型樣品隔間可擴充以容納大型配件及積分球，用於光譜測量與漫反射分析。LockDown機制可快速更換並精準定位配件，確保測量結果可重複。
窄波段InGaAs偵測器的高靈敏度在SWIR波段透過分光光度計的光學通量最佳化得以充分利用。其600線／mm的近紅外衍射光柵，設計峰值（blaze）為1000 nm，可將光學色散集中於800-1800 nm波段，避免光子浪費至偵測器範圍之外。Cary 6000i是材料特性光譜分析的理想工具。
搭配Cary WinUV軟體使用，可輕鬆執行強大分析並控制選配配件。大型樣品隔間可擴充以容納大型配件及積分球，用於光譜測量與漫反射分析。LockDown機制可快速更換並精準定位配件，確保測量結果可重複。
特點和功能
優化的短波近紅外性能：
產品應用🔍
- 配備高性能的 InGaAs 檢測器，Cary 6000i 在 800–1800 nm 的短波近紅外區域提供優異的光度測量性能，同時在175-800 nm的紫外-可見範圍內也保持卓越表現
- 透過優化光通量，更好地利用窄帶 InGaAs 檢測器的出色靈敏度，適合材料表徵等應用
產品應用🔍
- 先進材料研究：適用於高反射與高吸收材料的光學測試，包括光學鍍膜、薄膜與精密光學元件，特別適合近紅外範圍內的高靈敏度測量
- 半導體產業：支援薄膜厚度測量、透光率與反射率分析，適用於微電子與半導體材料的光學特性測試
- 近紅外光譜分析：提供高解析度的 NIR 分析，適用於分子結構研究、化學鍵特性分析，廣泛應用於高精度材料鑑定與化學研究
產品規格
控制軟體：
Cary WinUV UV-Vis-NIR 應用軟體
深度：
710 mm
高度：
380 mm
光源：
鎢鹵素可見光與氘弧紫外光
最大掃描速度：
UV-Vis 2,000 nm/min, NIR 8,000 nm/min
光度量測範圍（Abs）：
8 Abs
光度量測系統：
雙光束
電源需求：
100-240 VAC, 50/60 Hz
光譜帶寬：
UV-Vis 0.01-5.00 nm, NIR 0.04-20 nm
波長：
175-1800 nm
重量：
91 kg
寬度：
1020 mm
Z高度：
20 mm