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Agilent 儀器設備 - 紫外可見光譜儀、紫外可見近紅外光譜儀
紫外可見近紅外光譜儀
Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer (UMS)
Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer (UMS)
Agilent Cary 7000全方位測量分光光度計（UMS）可滿足您所有固體樣品分析需求。可在一夜之間收集數百筆UV-Vis-NIR光譜，或在數分鐘至數小時內完成光學元件與薄膜的特性分析，而非數小時至數天。Cary 7000 UMS是光學、薄膜／鍍膜、太陽能與玻璃領域中研究、開發與品保／品管的完整解決方案。
Cary 7000儀器的多角度鏡面反射與透射量測能力可讓您設計以往無法達成的實驗，擴展研究範圍，同時自動化反射與透射量測將為您節省時間與成本。
Cary 7000儀器的多角度鏡面反射與透射量測能力可讓您設計以往無法達成的實驗，擴展研究範圍，同時自動化反射與透射量測將為您節省時間與成本。
特點和功能
專為固體樣品測量設計，能夠提供精確且高效的分析。
完整的樣品分析能力：
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可以在不同入射角和偏振條件下測量反射率和透射率，而且整個過程不需要移動樣品，確保測量結果的穩定性和一致性。這對需要高準確度的應用來說，是一個極大的優勢
高度自動化，省時又省力：
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透過先進的自動化技術，這款設備可以一次性完成多個測量，減少人工干預，大幅提升實驗效率。這不僅讓研究人員的工作變得更輕鬆，也能確保數據的可靠性
超廣範圍的應用：
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無論是高科技材料、光學元件，還是其他特殊材料，Cary 7000 UMS都能精確測量，幫助使用者深入了解樣品的光學特性，讓研究或品質檢測更加輕鬆
高穩定性與可靠性：
- 這款儀器的設計確保長時間運行仍能保持精確度，減少維護需求，讓實驗室的工作流程更加順暢
產品應用🔍
- 材料科學：適用於紫外-可見-近紅外範圍內的高精度測量，可分析高反射、高吸收材料，包括先進光學鍍膜、功能性薄膜、奈米材料與半導體材料的光學特性
- 光學元件測試：透過自動化角度變化與極化控制，可對光學鍍膜、濾光片、透鏡與反射鏡進行精確的全角度光譜測試
- 半導體與光電產業：可用於半導體薄膜厚度測定、透光率與反射率分析，支援晶圓、微電子與光電元件的高精度光學特性測試
- 太陽能技術：適用於太陽能電池材料的光學特性測試，提供全角度的透射、反射與吸收光譜測量，幫助評估與提升太陽能材料的轉換效率
產品規格
控制軟體：
Cary WinUV用於UV-Vis-NIR應用
深度：
710 mm
高度：
380 mm
光源：
鎢鹵素可見光與氘弧紫外光
最大掃描速度：
UV-Vis 2,000 nm/min, NIR 8,000 nm/min
光度量測範圍（Abs）：
10 Abs
光度量測系統：
雙光束
電源需求：
100-240 VAC, 50/60 Hz
光譜帶寬：
UV-Vis 0.01-5.00 nm, NIR 0.04-20 nm
波長：
175-3300 nm
重量：
91 kg
寬度：
1020 mm
Z高度：
20 mm